本文主要介紹熱處理晶粒度檢測(cè)中，截點(diǎn)法的操作方法，介紹金相分析軟件中部分晶粒度測(cè)量的方式。

1、截點(diǎn)法的分類(lèi)及應(yīng)用中的注意事項(xiàng)

（1）直線截點(diǎn)法注意事項(xiàng)

一條或數(shù)條直線，適當(dāng)?shù)臏y(cè)量網(wǎng)格長(zhǎng)度和放大倍數(shù)，保證至少能截獲50個(gè)截點(diǎn)。

截點(diǎn)的計(jì)算。

選擇3-5個(gè)視場(chǎng)進(jìn)行測(cè)量。

非等軸晶粒的測(cè)量。

（2）單圓截點(diǎn)法注意事項(xiàng)

適用于試樣不同位置晶粒度有明顯差別的材料。

使用的測(cè)量網(wǎng)格圓可以為任一周長(zhǎng)，通常使用100mm， 200mm，250mm。

選擇適當(dāng)?shù)姆糯蟊稊?shù)，以保證每個(gè)圓周產(chǎn)生35個(gè)左右截點(diǎn)。

所需的幾個(gè)圓周任意分布在盡可能大的檢驗(yàn)面上，視場(chǎng)數(shù)增加直至獲得計(jì)算精度。

（3）三圓截點(diǎn)法注意事項(xiàng)

試驗(yàn)表明，每個(gè)試樣截點(diǎn)計(jì)數(shù)達(dá)500時(shí)，常獲得可靠的精確度。

測(cè)量網(wǎng)格由3個(gè)同心等距，總周長(zhǎng)為500mm的圓組成。將網(wǎng)格用于測(cè)量任意選擇的無(wú)個(gè)視場(chǎng)上，分別記錄每次的截點(diǎn)數(shù)。