本文主要介紹熱處理晶粒度檢測中，截點法的操作方法，介紹金相分析軟件中部分晶粒度測量的方式。

1、截點法的分類及應(yīng)用中的注意事項

（1）直線截點法注意事項

一條或數(shù)條直線，適當(dāng)?shù)臏y量網(wǎng)格長度和放大倍數(shù)，保證至少能截獲50個截點。

截點的計算。

選擇3-5個視場進行測量。

非等軸晶粒的測量。

（2）單圓截點法注意事項

適用于試樣不同位置晶粒度有明顯差別的材料。

使用的測量網(wǎng)格圓可以為任一周長，通常使用100mm， 200mm，250mm。

選擇適當(dāng)?shù)姆糯蟊稊?shù)，以保證每個圓周產(chǎn)生35個左右截點。

所需的幾個圓周任意分布在盡可能大的檢驗面上，視場數(shù)增加直至獲得計算精度。

（3）三圓截點法注意事項

試驗表明，每個試樣截點計數(shù)達500時，常獲得可靠的精確度。

測量網(wǎng)格由3個同心等距，總周長為500mm的圓組成。將網(wǎng)格用于測量任意選擇的無個視場上，分別記錄每次的截點數(shù)。

選擇適當(dāng)?shù)姆糯蟊稊?shù)，使三個圓的試樣網(wǎng)格在每個視場上產(chǎn)生50-100個截點計數(shù)，使通過選擇的5個視場可獲得400-500個總截點數(shù)。

測量網(wǎng)格通過三個晶粒匯合點時，截點計數(shù)為2個。

2、非等軸晶試樣晶粒度的測定

（1）對于矩形的棒材或板材晶粒應(yīng)在其縱向、橫向、及法相截面上進行測定，圓棒材應(yīng)在縱向和橫向上測定。如果等軸偏差不大（3:1形狀比），可在縱向試樣上使用圓形測量網(wǎng)格進行分析。如果使用直線取向測量網(wǎng)格進行測定，可使用三個主要截面的任意兩個面進行三個取向的測量。

（2）面積法

n_平  =（n_橫n_縱n_法）^1/3  

n_平 ：每mm² 內(nèi)的平均晶粒數(shù)。

G=3.322lgn_平  -2.9542

（3）截點法

可使用圓測量網(wǎng)格隨機地放在三個主檢測面上進行?；蚴褂弥本€段在3個或6個主方向上2個或3個主檢測面上進行截點計數(shù)。對于等軸形狀偏離不太嚴(yán)重（≤3:1形狀比）的晶粒度的測量使用圓測量網(wǎng)格在縱向面上進行測量。

晶粒度測量中，測量直線的6種可能取向

截點法晶粒度的計算

G=6.6439lgp₁ -3.288

p₁  =（p_1l ·p_1t ·p_1n）^1/3

p_1l  、p_1t  、p_1n  分別為縱向、橫向、法相基本平面上單位長度的截點數(shù)。

通過截點數(shù)，計算出平均截距，可以確定晶粒伸長率和各向異性系數(shù)。

3、晶粒度數(shù)值的表示方法

1）通常以晶粒平均直徑，平均截距，晶粒平均截面積及晶粒度級別數(shù)G來表示。

2）因為晶粒度的各種數(shù)值表示都是由初測值n_a（每mm²內(nèi)的平均晶粒數(shù)）或p₁（每mm內(nèi)的截點數(shù)）的對數(shù)或倒數(shù)的關(guān)系求出。所以表示一組試樣的晶粒度，不能簡單地將各個晶粒度計數(shù)值進行平均。

3）若試樣中發(fā)現(xiàn)晶粒不均勻現(xiàn)象，經(jīng)全面觀察后，如屬偶然或個別現(xiàn)象，可不予計算。如較為普遍，則應(yīng)計算出不同級別晶粒在視場中各占的面積百分比。若晶粒所占的面積百分比不少于視場面積的90%，則只記錄次一種晶粒的級別數(shù)。否則，應(yīng)用不同級別數(shù)來表示該試樣的晶粒度，其中第一個級別數(shù)代表占優(yōu)勢的級別數(shù)。

4）如需要對混合晶粒度評定時，可將混合各部分的晶粒分別按單峰分布評定平均晶粒度，并測定各部分的晶粒所占的百分比。如8級70%，3級30%。

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